DOI: 10.15330/pcss.18.1.75-77

Я.П. Салій

Класичний розмірний ефект в тонких плівках SnTe, легованого Sb

Прикарпатський національний університет ім. Вассиля Стефаника, вул. Шевченка 57, Івано-Франківськ, Україна, saliyyaroslav@gmail.com

Встановлена можливість отримання сильно дефектних (4×10²⁰ см^-3) тонких плівок (d = 200 - 2000 нм) SnTe з р- типу провідності шляхом термічного випаровування в вакуумі кристалів SnTe легованого Sb, з подальшою конденсацією на поверхні (0001) слюди і ситалі. Отримано товщинну залежність електрофізичних властивостей тонких плівок. У цій області товщини спостерігалося зростання рухливості носіїв з товщиною, що обумовлено проявом класичного розмірного ефекту і інтерпретується в рамках теорії Фукса-Зондхеймер. Ці виміри показали слабку кореляцію між довжиною вільного пробігу носіїв заряду і латеральним діаметром поверхневих об’єктів.
Ключові слова: телурид олова, тонка плівка, товщина, розмірний ефект.

Література

[1] D.M. Rowe, CRC Handbook of Thermoelectrics (CRC Press, Boka Raton, London, New York, Washington, 1995).
[2] Yu.I. Ravich, B.A. Efimova, and I.A. Smirnov, Methods of Research on Semiconductors as Applied to Lead Chalcogenides PbTe, PbSe and PbS (Moscow: Nauka, 1968).
[3] T.C. Harman, D.L. Spears, M.J.J. Manfra, J. Electron. Mater. 25, 1121 (1996).
[4] T.C. Harman, D.L. Spears, and M.P. Walsh, J. El. Mater. 28, L1 (1999).
[5] S.I. Menshikova, E.I. Rogacheva, A.Yu. Sipatov, S.I. Krivonogov, P.V. Matychenko, Journal of Thermoelectricity 2, 25 (2015).
[6] Ya.P. Saliy, B.S. Dzundza, I.S. Bylina, O.B. Kostyuk, Journal of nano- and electronic physics 8(2), 02045 (2016).
[7] Ya.P. Saliy, N.I. Bushkov, I.S. Bylina, V.I. Makovyshyn, Physics and chemistry of solid state 17(1),65 (2016).