DOI: 10.15330/pcss.17.4.471-475

Я.П. Салій , М.А. Рувінський , Л.І. Никируй

Особливості розподілу нанооб’єктів на поверхні парофазних конденсатів напівпровідників IV-VI

ДВНЗ «Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника», вул. Шевченка, 57, м. Івано-Франківськ, 76018, Україна, saliyyaroslav@gmail.com

Досліджено вплив технологічних факторів отримання: часу та температур випарника та підкладки на статистику об’єктів на поверхні плівок PbTe легованого Bi,осаджених з пари у вакуумі на підкладки з ситалу. Використано атомно-силову мікроскопію, методи обробки зображення та перевірки статистичних гіпотез. Проаналізовано вплив технологічних факторів на статистику розмірів поверхневих кристалітів та їх кореляцію між собою.
Ключові слова: cтатистичні розподіли, поверхневі об’єкти, фактор форми.

Література

[1] A.N. Shimko, G.E. Malashkevich, D.M. Freik, L.I. Nykyruy, V.G. Lytovchenko, Journal of applied spectroscopy 80 932 (2014).
[2] Y.P. Saliy, D.M. Freik, I.K. Yurchyshyn, I.M. Freik, Journal of Nano- and Electronic Physics 5 03038 (2013).
[3] Y.P. Saliy, B.S. Dzundza, I.S. Bylina, O.B. Kostyuk, Journalof Nano- and Electronic Physics 8 02045 (2016).
[4] R. W. Siegel, H Hahn, in Current Trendsin Physicsof Materials, ed. M. Yussouff (Singapore: WorldSci. Publ. Co, 1987).
[5] H. Gleiter, Progr. Mater. Sci. 33 233 (1989).
[6] A.I. Gusev, UspihPhys. Nauk 168 55 (1998).
[7] L.D. Landau, E.M. Lifshits, StatisticalPhysics. Part 1(Nauka, Moskow, 1976).